Физический энциклопедический словарь - лауэ метод

Схема метода Лауэ. SO — первичный пучок; К — кристалл; ММ' — направление кристаллографич. плоскости, находящейся в отражающем положении; KL — отражённый луч; РР' — фотоплёнка.

Излучение, рассеянное кристаллом в направлениях, определяемых Брэгга — Вульфа условием, регистрируется на плоской фотоплёнке, помещённой за кристаллом перпендикулярно падающему излучению (рис.). В случае крупных монокристаллов фотоплёнка располагается перед кристаллом, а лауэграмма, полученная таким способом, наз. эпиграммой.

Л. м. применяется для пространств. ориентации монокристаллов, в особенности неогранённых (см. Рентгеновский структурный анализ), исследования совершенства внутр. строения монокристалла (см. Рентгеновская топография), фононных спектров, процессов распада, старения и перестройки крист. структуры (напр., под действием темп-ры, облучения нейтронами или gm-излучением и т. д.; см. Рентгенография материалов) и неупругих когерентных процессов.

• См. лит. при ст. Рентгеновский структурный анализ. Рентгеновская топография.

А. В. Колпаков.